OSA:测量光电时间变化
横川光谱分析器配有0nm扫描功能,反复测量特定波长光电并显示随时间变化光轴对接有效,例如光纤与光源相联
N级0nm扫荡函数
光谱分析器波长设置设置为0纳米时,光谱元件(折射栅格)固定在中心波长位置上以此状态执行测量(扫波)时,可观察中心波长光电随时间变化横轴屏幕切换时间执行0NM扫描前,将中心波长定到波长测量和波长分辨率最大分辨率(2NM)以避免因波长随时间变化而缺失光电sweep时间可任意定 ** 慢功率修改可显示在一个屏幕上
m扫荡设置 家 设为a测量波长 span0nm 水平轴定时 2nm 设置宽分辨率不误信号因波长漂移 [SENS] 设置适配敏感度视光电常数=快速/高功率 [0mWEEBTime] 设置全屏扫描时间适切性 |
**扫瞄时间取决于测量敏感度设置
时间长度可能比sweep时间中设定的时间长
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